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DM3XL徕卡金相显微镜
显微镜优势:在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快.【详细说明】DM3XL徕卡金相显微镜视场宽敞30%:DM3 XL 检验
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德国徕卡 正置显微镜 DM3 XL
快速检测,快速响应快速检测,快速响应徕卡DM3 XL正置显微镜 DM3 XL——在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就
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Leica DMLIM倒置金相显微镜
显微镜前的观察工作变得非常舒服3、内置电源控制系统内置 6V/35W 的卤素灯源便于光亮度调节同时节省试验桌面空间。二、技术规格1、倒置式金相显微镜,主要提供反射观察配置,满足金相样品的常规检测分析2
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Leica MEF4金相显微镜
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微电子和半导体检查系统 DM3 XL
快速扫描6英寸以下的大型组件,DM3 XL提供了独特的微距物镜。放大倍数为0.7倍,它可以立即捕获35.7毫米的视场-比其他常规扫描物镜大30%。微电子和半导体检查系统 DM3 XL 检测速度在
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德国徕卡 XL支架Leica XL Stand
模块化支架允许以高立体放大倍率对大型样本进行检验 Leica XL Stand徕卡XL支架为模块化解决方案,可让诸如印刷电路板检查、法医工具痕迹或文件检查以及TFT / LCD检验之类的应用中
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德国徕卡 DM ILM倒置金相显微镜 Leica DM ILM 倒置金相显微镜
模块化设计的徕卡DM ILM 倒置金相显微镜可以快捷并出色地完成所有的常规工业日常观察和测量任务。高性能光学设计提供锐利,清晰的明场反射光,偏光以及荧光的高分辨率和反差效果。徕卡 DM ILM
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Leica徕卡 DM2700M 金相显微镜
结构简单,使用可靠:徕卡DM2700 M金相显微镜 以zei好的光照强度观察材料组织 在zei好的光照强度下观察材料组织。通用白光(4500K)LED照明装置与著名的高品质徕卡光学
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Leica DM 2700M徕卡金相显微镜
达到80mm的样本(例如机械元件)找到一种理想的载物台进行检查。 带有通用LED照明的正置材料分析显微镜 Leica DM2700 M -此材料分析显微镜由高质量的徕卡光学元件以及zei先进的通用
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微电子和半导体用检验系统 DM3 XL
在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。视场宽敞 30% DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷
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